Μέθοδος αύξησης:Τοπ-σπαρμένη μέθοδος λειωμένων μετάλλων
Σύστημα κρυστάλλου:Κυβικός
Κρυσταλλογραφική σταθερά δικτυωτού πλέγματος:a= 3,989 Α
Σειρά διαφάνειας:Υψηλή μετάδοση από 0,4 έως 5 μm
Συμμετρία κρυστάλλου:Tetragonal, διαστημική ομάδα D4h Zircon
Κύτταρο κρυστάλλου:a=b=7.12A c=6.29A
Μέθοδος αύξησης:Τσοχράλσκι
Σύστημα κρυστάλλου:Κυβικός
Κρυσταλλογραφική σταθερά δικτυωτού πλέγματος:a= 3,868 Α
Σημείο τήξης (℃):2080
Πυκνότητα (g/cm3):6.52
Σκληρότητα (Mho):6-6.5
Μέθοδος αύξησης:Τσοχράλσκι
Κρυσταλλική Δομή:Orthorombic, perovskite
Πυκνότητα (25°C):6.9 g/cm ³
Κρυσταλλική Δομή:μ
Σταθερά κυττάρων μονάδων:a=5.154Å c=13.783 Å
Σημείο λειωμένων μετάλλων (℃):1650
Μέθοδος αύξησης:Σπαρμένη κορυφή αύξηση λύσης
Σημείο τήξης (℃):1600
Πυκνότητα (g/cm3):6.02
Κρυσταλλική Δομή:Μ3
Μέθοδος αύξησης:Μέθοδος Czochralski
Σταθερά κυττάρων μονάδων:a=12.376Å, (Z=8)
Συντελεστής θερμικής αγωγιμότητας:το //C: 5.23 W/m/K ⊥C: 5.10 W/m/K
Κατηγορία κρυστάλλου:Θετικός uniaxial χωρίς το =na=nb, ne=nc
Θερμικός οπτικός συντελεστής:Dna/dT=8.5x10-6/K dnc/dT=3.0x10-6/K